ゼオライトの応用研究における微細構造解析の役割
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ゼオライト研究に用いられる多様な解析技術の中で,電子顕微鏡は対象物質の微細構造に関する情報を得ることが出来る有効な技術の一つである。近年,電子顕微鏡装置の性能向上はめざましく,試料の形態観察に適した走査型電子顕微鏡(SEM)に於いてはゼオライト粒子表面の結晶ステップ構造やメソポーラスシリカのメソ細孔の直接観察が可能であり,透過型電子顕微鏡(TEM)では結晶の原子配列やそれに近い微細構造の観察を可能とする高分解能装置が標準的である。このような装置性能の向上に伴って電子顕微鏡観察は広く普及し,材料開発に欠かせない評価手法となっている。こうした背景から,観察が困難とされるTEM法を用いたゼオライトの構造解析も年々盛んになっている。その結果,ゼオライトのTEM観察技術における多くの経験的蓄積がなされ,単なるゼオライト微結晶の構造解析にとどまらず広くゼオライト応用材料の構造解析にもTEM法が利用されはじめてきた。ここでは,ゼオライトやメソポーラス物質を対象とするTEM法について紹介するとともに,TEM法によるゼオライト薄膜や微細な加工処理が施されたゼオライト粒子の構造解析の結果について解説する。
Key words: TEM (transmission electron microscopy); zeolites; nanostructures; CCD camera; IP (imaging plate)
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