メタンをプローブに用いた赤外分光法による塩基点の評価
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固体表面や細孔性材料の細孔内における活性点の評価は,触媒や吸着材料としての利用を考える上で重要であるが,塩基点の評価手法はまだ確立されているとはいえない。プロープ分子を用いた赤外分光法による固体表面の評価は,このような目的に対して有効である。メタンは塩基点のプローブとして有望であるが,塩基点だけでなくゼオライトのカチオンサイトなど,強い静電場を有するサイトとも相互作用する。しかし静電場サイトに選択的に吸着するCOとの2成分吸着を行うと,メタンの静電場サイトヘの吸着を同定することができる。本解説では,プロープ分子に必要とされる条件,メタンおよびCOのスペクトルの解釈について概説した後,メタンとCOの2成分吸着を用いてチタノシリケートETS-10のNaおよびCsイオン交換体について塩基点評価を行った結果を紹介する。
Key words: basic site; methane; infrared spectroscopy; carbon monoxide; titanosilicate
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